走査プローブ顕微鏡(Scanning Probe Microscope : SPM) “大気SPM”(D3)
走査トンネル顕微鏡(STM), 原子間力顕微鏡(AFM)の両方の測定が可能で、試料や用途に応じて両者を使い分けています。除振にアクティブ除
走査トンネル顕微鏡(STM), 原子間力顕微鏡(AFM)の両方の測定が可能で、試料や用途に応じて両者を使い分けています。除振にアクティブ除
電解液中、電位印加時の表面観察、すなわち電気化学環境におけるSTMです。電位変動下におけるナノ微粒子の形態観察などに用います。
カーボン基板上に堆積した金属・合金ナノ微粒子の観察に用います。Nanosurf : NaioSTM
電解還元反応生成物分析に利用しています。Shimazu GC-2014 + Toho Technical Research PS
超高真空中で作製したモデル電極触媒を大気暴露せずグローブボックスに搬送し、グローブボックス内の回転ディスク(RDE)などにより構造制御され
ヨウ素還元滴定(ヨードメトリー)を行い、溶液中に生成したオゾン量を評価するために利用しています。KEM AT-710BA