外部装置 放射光分析装置(SPring-8, NanoTerasu)
電気化学反応下、反応前後における触媒の局所構造・化学状態・結晶構造評価にSPring-8やNanoTerasuなどの放射光施設でXAFS, XRD分析などを行っています。(写真はSPring-8, BL19B2)
電気化学反応下、反応前後における触媒の局所構造・化学状態・結晶構造評価にSPring-8やNanoTerasuなどの放射光施設でXAFS, XRD分析などを行っています。(写真はSPring-8, BL19B2)
単結晶基板などの高温熱処理に用います。
各種試料の熱処理に用います。管状炉2点、マッフル炉1点
塗布熱分解法による化合物触媒層の形成に用います。
CV, LSV, FRAなどの電気化学測定に用います。Biologic社製 5台、明電北斗社製 5台、ECフロンティア社製 5台
粉末触媒のペースト調製、回転ディスク電極法による電極触媒特性評価に用います。
小型フローセルを用い、Labview制御で全自動で薄膜試料の電気化学測定の多点測定ができます。
電気化学反応で生成した気相生成物の質量分析器によるオンライン分析に用います。
電気化学反応下において触媒表面に生成した化合物皮膜の化学構造分析に用います。
電気化学反応下における電極触媒の酸化還元反応の追跡に用います。
試料最表面近傍の化学組成・化学状態分析に用います。試料の角度調整により分析深さを変更した角度分解測定もできます。
3源のRFスパッタ源により熱処理下で多元合金・化合物薄膜や組成傾斜薄膜を作製することができます。